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可售数量: 5台

4145A/B 半导体参数分析仪
可靠、可重复地测量宽带隙(SiC、GaN)功率半导体动态特征
测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、栅极电荷以及其他许多特征
同时满足被测器件和用户对测试环境的要求
模块化平台可扩展、可升级,能够对所有功率器件进行测试

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13713613712
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0755-23593205
出售/回收 是德 keysight 4145A/B 半导体参数分析仪 科瑞仪器
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