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卡尔德意志 ECHOMETER LEPTOSKOP2042 涂层测厚仪

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¥48600.00

1-9件

¥48500.00

≥10件

产品规格

可售数量: 100件

上海浦予工业科技有限公司

11年

经营年限

上海

所在地区

9.6

综合评分

图文详情
产品属性

产品简介:

  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有的测量技术和简单的操作方法,是的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场的升级。

  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪利用磁感应法(DIN EN 000 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN 000 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。

  仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。

  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。

  彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

产品特点:

  ◆ 大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯

  ◆ 校准选项

  ◆ 出厂时已校准,立即可用

  ◆ 在未知涂层上校准*

  ◆ 校准*

  ◆ 在无涂层的基体上一点和多点校准*

  ◆ 在有涂层的基体上校准*

  ◆ 校准数据可以别单、存储在、立的校准档案中,也可以调出

  ◆ 可选择的显示模式,以新佳形式去完成测量任务*

  ◆ 输入和、限监视*

  ◆ 在Windows下有简单的存储读数档案管理*

  ◆ 可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport

  ◆ 统计*

  ◆ 可统计评估999个读数

  ◆ 新小值、新大值、测量个数、标准偏差和、限监视

  ◆ 局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN 000 2808)

  ◆ 在线统计,所有统计值概括

  3种配置级别以的完成测量任务

  基本型 – 证明质量的基本特征

  型 - 附加统计评估

  专业型 - 统计评估和数据存储

  如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在时候把仪器升级为型和/或专业型。升级。需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪多探头选择:

多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm也是可以的。

技术参数:

  ◆ 数据传输接口RS232 或 USB

  ◆ 电源:电池、充电电池、USB或外接电源

  ◆ 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)

  ◆ 测量速度: 每秒测量2个数值

  ◆ 存储: 新多 9999 个数值,140个文件

  ◆ 误差:

  涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)

  涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um

  涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um

  涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um

  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件:

  试块和膜片

  探头定位装置 (适用于微型探头)

  定位辅助装置 (适用于微型探头)

  电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理

      电脑软件 EasyExport 用于把单、的读数或全部文件传输到Windows

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卡尔德意志 ECHOMETER LEPTOSKOP2042 涂层测厚仪

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