半导体分立器件测试仪简介    

       S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，最大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。   

产品特点

       Ø         5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作    

       Ø                 内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV    

       Ø                 源及测量的准确度为0.1%，分辨率5数位    

       Ø                 四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压0.3mV~300V    

       Ø         丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描    

       Ø                 支持USB存储，一键导出测试报告    

       Ø                 支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网    

         技术参数

  半导体分立器件测试仪应用

       l 分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；    

       l   能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等    

       l   传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等    

       l   有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等    

       l   纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等