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产品规格
可售数量： 1台
固体介质折射率实验仪型号:HLD-GTZ-II库号：M405196
折射率是反映介质光学性质的重要参数之一。本仪器采用的实验方法，在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法，测量介质的折射率。本仪器具有体积小，重量轻，调节方便，装置牢靠，实验数据等优点。本仪器可用于基础物理实验，设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。
技术参数：
1、半导体激光器，波长650nm，大功率5.0mW，带三位调节架；
2、独立的半导体激光器电源，亮度可调节；
3、光功率计：分四档测量：0～２0μW～２00μW～2mW～20mW；三位半数码管显示；
4、铝合金光具座：长度1000mm,分度值１mm；
5、偏振片2块,直径Φ30，角度0-360°可调；
6、布儒斯特角转盘0～360°旋转，可调角度分辨率1度；
实验内容：
1、观察光的偏振现象，加深偏振的基本概念；
2、测量固体的折射率。
重量约10kg左右
固体介质折射率实验仪型号:HLD-GTZ-II库号：M405196
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