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出售/回收 吉时利Keithley 4200A-SCS-PKC参数分析仪主机

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深圳市岑德科技有限公司

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出售/回收 吉时利Keithley 4200A-SCS-PKC参数分析仪主机



Keithley 4200A-SCS 参数分析仪

使用 4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

主要性能指标

I-V 源测量单元(SMU)

  • ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模块

  • 100 fA测量分辨率

  • 选配前端放大器提供了 10 aA测量分辨率

  • 10 mHz - 10 Hz 超低频率电容测量

  • 100 μF负载电容

  • 四象限操作

  • 2 线或 4 线连接

C-V 多频率电容单元(CVU)

  • AC 阻抗测量 (C-V, C-f, C-t)

  • 1 kHz - 10 MHz 频率范围

  • ± 30 V (60 V差分)内置DC偏置源,可以扩展到± 210 V(420 V 差分)

  • 选配 CVIV 多通道开关,在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换脉冲式I-V 超快速脉冲测量单元(PMU)

  • 两个独立的或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道

  • 200 MSa/s,5 ns 采样率

  • ±40 V (80 V p-p),±800 mA

  • 瞬态波形捕获模式

  • 任意波形发生器 Segment ARB® 模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率


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