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产品规格
可售数量： 2台
出售/回收/维修 是德科技keysigh NX6002A 参数测试
参数测试解决方案晶圆级测试系统用于参数验证
适用于晶圆级和封装半导体验证的可扩展平台
是德科技参数测试解决方案将高性能测量仪器 灵活自动化相结合，可加速半导体器件从早期开发到大规模生产的评估进程。这些可扩展系统提供精确的电流-电压（IV）、电容-电压（CV）及可靠性测试，助力优化器件性能、监控工艺波动并确保长期可靠性。 该解决方案专为与晶圆测试台及生产环境无缝集成而设计，可满足当今进阶 技术所需的精度、速度与效率。立即索取热门配置报价。需要选型帮助？请查阅以下资源。
高通量自动化
通过多站点功能和快速可编程切换提升测试效率，特别适用于大批量晶圆探测或高混合封装器件环境。
灵活的测试集成
将精密SMU、电容测量单元、脉冲模块和可靠性工具无缝集成于单一可扩展系统中，以适应各种测试场景。
流程与可靠性关注
执行全面的参数化、脉冲IV及长时应力测量，以支持器件认证并监测不同工作状态下的可靠性。
可定制软件
利用模块化软件平台，为生产、建模或探索性设备研究定制测试序列和自动化脚本。
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0755-23593205
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