HAST高压加速老化试验箱

产品规格 : SN-HAST-35 温度范围：+105℃~+162.5℃，压力范围：0.019~0.393Mpa

HAST高压加速老化试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

产品特点：

◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

◆采用真空泵，使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。

◆采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据功能，RS-485通讯接口。

◆汽车级硅胶整体密封条，气密性好，耐用。

◆全自动补水功能,前置式水位确认。

◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为：干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。 HAST高压加速老化试验箱简介：

HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。

赛能高压加速老化试验箱采用新优化设计，美观大方、做工精细，对应 IEC60068-2-66 条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；具有缓降压、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。

型号			SN-HAST-35	SN-HAST-40
尺寸参数单位cm	内箱尺寸	直径Φ	35	40
		深D	45	45
	外箱尺寸	宽W	73	75
		高	163	155
		深D	110	130
性能参数	温度范围（饱和/非饱和）		105~151.4℃（ R.H）；105.0~133.3℃（ R.H）
			110.0~157.5℃（85%R.H）；110.0~140.0℃（85%R.H）
			118.0~162.5℃（65%R.H）；118.0~150.0℃（65%R.H）
	湿度范围		65%~ R.H
	压力范围（饱和/非饱和）		0.019~0.393Mpa
			0.019~0.208Mpa
	温度波动度		±0.5℃
	温度均匀度		±0.5℃
	湿度波动度		±2.0%R.H
	湿度偏差		±5.0%R.H
	压力偏差		≤±2Kpa
	升温速率		+25℃~135℃,全程平均约45min(空载，不发热)
	升压时间		0→0.196Mpa约20min
温度、湿度、压力范围
箱体材质	外箱材料		优质防腐电解板，表面静电粉体烤漆
	内箱材料		SUS316不锈钢板；内胆整体全满焊焊接而成
	保温层		超细玻璃保温层，阻燃等级A1
燥音			≤60分贝（dB）(噪音检测装置距离设备大门1m处测量)
控制器			7寸彩色触摸屏智能模糊控制器，搭载压力温湿度版操作系统
使用条件			1.+5℃~+35℃ 2.相对湿度：不大于85%R.H 3.大气压力：80kpa~106 kpa 4 .平坦无振动的地面
保护装置			a. 加热器空焚防止保护开关 b. 加热器过电流断路器 c. 循环风扇过电流超载保护 d. 压缩机高压保护开关 e. 压缩机过热保护开关 f. 压缩机过电流保护开关 g. 过电压欠逆相保护开关 h. 线路断路器 i. 漏电开关 j. 过零点闸流体功率控制器 k. 缺水保护