综合接入测试仪 型号:IAT-1710E

综合接入测试仪  型号:IAT-1710E

库号：M326663 

通用指标

规格尺寸：216x109x56mm

重量：<1.5kg

显示屏：彩色5LED，480x272像素

操作方式：触摸

存储：2G SD 卡

可充电锂电池：充电时间：3~4 小时

续航时间：大于 5 小时

运行环境：操作温度：-10~50℃

存储温度：-20~70℃

操作湿度：10%~90%

存储湿度：5%~95%

E1接口指标：

发送时钟：内时钟，收时钟

时钟拉偏设置：范围:+/-50ppm 分辨率:0.1ppm 精度:+/-15ppm

时钟频偏测试：范围:+/-1000ppm分辨率:0.1ppm精度:+/-15ppm

信号电平检测：范围:0~37.5dB 精度:2.5dB

接口阻抗：75欧不平衡，120欧平衡

帧结构：非成帧，PCM30,PCM31PCM30CPCM31C

码型：HDB3，AMI

性能分析标准：G.821,G.826,M2100

V系列接口指标

V接口类型：V.35,V.24

工作模式：DTEDCE

传输方式：同步

速率：2048K，Nx64K，Nx56K

性能分析标准：G.821

10/100/1000M以太网接口指标

帧类型：DIX，802.3SNAP

自定义帧长：40-10000

典型帧长度：64，128，256，512，768，1024，1280，1518

RFC2544测试：吞吐量，时延，丢包率，背对背，

吞吐量测试精度：0.001Mbps

时延测试精度：1us

丢包率测试精度：0.001%

网络层协议类型：IPIPXARPRARPBanyan,DECnetApple TalkDADI自定义

数据环回层次：物理层，链路层，网络层