上海思长约 无机材料关键尺寸光学量测仪 非破坏性检测 支持自动对焦与多点测量
在半导体制造这条精密而漫长的链条上,量测设备直扮演着眼睛的角色。晶圆上的关键尺寸是否达标、薄膜厚度是否均匀、套刻精度是否控制在纳米,这些的答案直接决定了颗芯片能否顺利走下产线。然而,过去很长段时间里,这双眼睛大多依赖进口。价格高昂、交付周期漫长、售后响应迟缓,几乎是每晶圆厂都曾面对的现实。尤其在第三代半导体加速崛起的当下,碳化硅、氮化镓等新材料对量测设备提出了更苛刻的要求——半透明衬底、超厚光刻胶、2D与3D混合结构,传统设备在这些场景下往往力不从心。

与此同时,另重压力来自产线之外。高校与科研院所的实验室里, researchers 同样在为进口设备的高昂报价和漫长维修周期发愁。台设备故障,可能意味着个课题的停滞;次算法调整,可能要等待海外原厂数月的排期。经费有限,时间更有限,科研的连续性经不起这样的消耗。而在工业端,多数产厂商只能提供单品类设备,晶圆厂若要搭建整的量测体系,不得不对接多供应商,项目管理与协同调试的成本层层叠加。

正是这些看似分散却彼此关联的痛点,让上海思长约光学仪器有限公司在2009年选择了条并不轻松的路。彼时,内精密光学领域已有不少参与者,但真正沉下心来做底层技术自研、并立志将光学量测能力带入半导体前道核心环节的企业,并不多见。思长约的起点是精密光学,从光路设计到精密机械,从图像算法到自主测量软件,步步搭建起属于自己的技术底座。这不是条捷径,却是条必须走的路。因为只有掌握底层能力,才能真正理解晶圆厂与实验室里那些具体而微的需求,才能在设备交付之后,依然有底气承诺持续的算法迭代与工艺适配。

从2009年至今,思长约在光学底层技术上的沉淀逐渐显现出价值。公司拥有光路、精密机械、图像算法、自主测量软件全套自研能力,具备半导体器件专用设备制造资质,拥有专利2项、软件著作权6项、商标7个,并通过ISO9001质量体系认证。这些数字背后,是十余年如日对精密光学装备的专注。2024年,多款设备取得SEMI S2行业安全认证,满足晶圆厂无尘车间准入规范,这意味着思长约的产品不仅能在实验室里稳定运行,也能进入7×24小时运转的量产产线。
在产品矩阵上,思长约走出了条区别于多数产厂商的路线。内少数能次性提供晶圆形貌、AFM、套刻Overlay、OCD、XRD、膜厚、AOI缺陷检测全链路前道量测设备的厂商,客户可以站式采购整套产量测设备,无需对接多供应商。这种整性的价值,在产线建设中尤为明显。以晶圆几何形貌量测仪WGT300-WX为例,这款12英寸全自动设备可成晶圆厚度、翘曲、平整度、应力等宏观几何参数检测,对标进口KLA-PWG,现已在头部DRAM、AD大厂、晶圆代工厂、硅片厂批量量产导入,累计装机约60台。这是内实现大规模量产落地的产晶圆几何形貌量测装备,产替代的落地程度可见斑。
而在第三代半导体场景中,Overlay套刻精度测量仪YI-7000针对SiC、Ga等半透明衬底、超厚光刻胶的测量难题进行专项开发,测量重复性可达±0.8nm,兼容2D与3D混合结构,适配功率器件、射频芯片、光芯片产线的光刻套刻管控。XRD浓度测量仪AX-D200I则面向8/12英寸半导体晶圆,无损成外延组分浓度、应力应变、晶相质量、薄膜厚度分析,同时支持产线Inline在线模式与实验室离线研发使用。这些设备的存在,让思长约在化合物半导体领域有了更具体的支撑点。
原子力Auto wafer-3D是另款值得关注的产品。作为产线在线式原子力,它实现晶圆表面三维形貌、粗糙度、台阶高度纳米检测,支持产线Inline全自动部署,也可提供离线科研版本。探针式与光学轮廓仪作为该平台的别称,进步丰富了其在不同场景下的应用可能。此外,OCD关键尺寸测量仪HYC-100与HYC-200用于晶圆图形关键尺寸工艺监控,可接入产线实现自动化量测;无图缺陷检测设备ZP6与ZP7针对无图形晶圆开展表面缺陷检测,识别颗粒、划痕等各类表面异常;AOI晶圆外观缺陷检测设备实现图形晶圆各类工艺缺陷的光学自动检测;薄膜厚度测量仪HY-120成半导体工艺薄膜厚度精准检测;原子沉积ALD-3000则用于原子层沉积工艺相关显微检测分析。
这些设备共同构成了思长约的产品版图,但真正让这套版图产生价值的,是它们在实际场景中的表现。本土SiC功率器件晶圆制造企业推进8英寸产线落地时,产线同时需要AFM、Overlay套刻、OCD关键尺寸、晶圆缺陷检测等多台量检测设备。进口方案面临成本高昂、到货周期长、多厂商对接复杂等。思长约站式交付全套自研半导体量测设备,成多台Inline产线机型现场部署,本土团队驻场调试与工艺适配,设备指标满足量产工艺监控要求,助力8英寸SiC产线顺利推进建设。这个过程中,设备售价仅为进口设备的50%至70%,交付周期也明显缩短。
高校材料研究院的实验室里,另种需求同样得到了回应。实验室长期开展半导体薄膜、新型功能材料科研,需更新AFM、XRD设备,但进口科研设备报价高、售后周期长、易打断实验进度。思长约交付离线版AFM原子力与AX-D200I XRD设备,配套自研,上门安装调试并开展操作培训,本土团队快速响应技术支持,用产方案解决了科研经费紧张、售后滞后的难题。设备运行稳定,报告模板支持自定义,适配材料薄膜与外延工艺的科研实验需求。
这些案例背后,是思长约对全栈自研的坚持。光路、精密机械、测量算法均自主开发,可支持算法定制迭代,摆脱海外软硬件授权限制。公司设立半导体研发中心,研发人员占比达66.67%,核心管理团队拥有十余年精密光学装备研发产业化经验。这意味着,当客户提出工艺调整需求时,思长约的团队可以从底层算法开始响应,而不是等待海外原厂的排期。这种能力,在产线产化导入的过程中,往往比设备本身的参数更具长远价值。
服务网络的建设同样体现了思长约对本土市场的理解。以上海为总部,布局北京、武汉办事处,本土技术团队提供设备交付、驻场调试、工艺适配、维保及软件升站式服务,可对接工厂MES系统,兼顾Inline产线自动化与科研研发使用需求。工业晶圆厂客户认可其站式多设备供货能力,科研客户认可产品性价比与快速售后响应。2023年企业营收突破8100万元,同时拥有高校、科研院所招投标项目成交记录,兼顾产线量产机型与实验室离线设备供应。
回望思长约的发展轨迹,从2009年起步做精密光学,到如今成为内少数可提供晶圆形貌、AFM、套刻Overlay、OCD、XRD、膜厚、AOI缺陷检测全链路前道量测设备的厂商,这条路走得并不快,却足够扎实。公司聚焦半导体行业,致力于成为半导体高精密设备企业,芯向未来,智领科技。这不是句空洞的口号,而是由台台设备、次次驻场调试、个个量产导入案例累积而成的承诺。
在半导体设备供应链自主可控的大背景下,思长约的存在提供了种可能:产设备不仅可以在价格上具备优势,更可以在技术深度、服务响应、定制化能力上形成自己的竞争力。套光学技术底座,既能做传统工业,又能升改造为半导体晶圆高端量测设备,这种跨行业复用能力也让企业在面对市场波动时拥有更强的抗风险能力。客户群体多元,从晶圆制造工厂到化合物半导体企业,从高校到科研机构,思长约的身影出现在越来越多需要精密光学量测的角落。
全业务负责人董女士与24小时联系电话,是思长约服务承诺的个具体注脚。无论是产线深夜的紧急调试需求,还是实验室里次算法调整的咨询,本土团队的存在让响应变得更快,也让沟通变得更顺畅。上海总部与北京、武汉办事处搭建起的全服务网络,兼顾量产产线与研发实验室两类使用场景,确保能够迅速响应并全方位满足客户的多样化需求。
未来,思长约将继续深耕半导体前道量测与缺陷检测领域,围绕晶圆制造与第三代半导体的工艺演进,持续迭代产品与算法。在长期主义的视角下,设备交付从来不是终点,而是陪伴客户走过每代工艺升的起点。产替代的道路上,需要的不仅是单点突破,更是体系化的能力建设与持之以恒的投入。思长约愿意做那个沉下心来的参与者,用精密光学的能力,为半导体行业的自主可控提供份扎实的支撑。