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LANGER EMV-Technik为德国 近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。
修改测试可用于产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。
修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。
所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定 源的位置和 强度，从而找出 大的零件或电路。
RF 1近场探头组包含4个无源近场探头，用于在研发阶段测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为30MHz到3GHz。利用RF 1探头组的探头，可以实现紧贴电子模块测量，比如贴近单个IC引脚、导线、元器件及其连接点测量，从而定位干扰信号源。通过相应地操作近场探头，能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并具备外皮电流衰减和电屏蔽。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部没有安装50Ω终端电阻。
Langer RF1 t近场探头组 Langer RF11探头组 现货 低价 促销
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