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可售数量： 20套
LANGER EMV-Technik为德国 近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。
修改测试可用于产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。
修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。
所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定 源的位置和 强度，从而找出 大的零件或电路。
前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。PA 303采用外接电源供电，并连接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。前置放大器的输入端通过相应的电缆与近场探头连接。PA 303的输入输出端口采用50ΩBNC（PA 303BNC），SMA型（PA 303 SMA）或者N型（PA 303N）连接器。
Langer PA 306 SMA 放大器 Langer 前置放大器 现货 低价 促销
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