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LANGER EMV-Technik为德国 近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。
修改测试可用于产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。
修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。
所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定 源的位置和 强度，从而找出 大的零件或电路。
ESA1是一套电磁兼容性工具的系统，用于有比较的测量元件组和设备的干扰放射。为了顺利且易理解的排除干扰，这套系统包含了一套根据开发者工作定制的 CS-ESA 软件。这套ESA1为开发者的工作场所而设计。在开发过程中用ESA1进行的干扰放射的测量结果与远场测量或者用模拟电路网络的测量结果成正比。使用ESA1系统中的工具可以定位干扰源，发现干扰放射的作用途径。借此可以找到合理的电磁兼容性方案，并确定其尺寸。用ESA1得到的改进成正比的作用于远场测量的结果
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