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LANGER EMV-Technik为德国 近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。
修改测试可用于产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。
修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。
所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定 源的位置和 强度，从而找出 大的零件或电路。
集成电路(IC)测试系统
利用集成电路(IC)测试系统，通过有针对性地施加骚扰(导耦合以及电磁场耦合)，可以分析电路的特性及其干扰发射情况。图1所示被测IC(电路)功能测试的试验装置。
集成电路用户通过该测试系统获取IC的电磁兼容(EMC)性能参数，可以：
在IC的开发阶段就考虑其电磁兼容(EMC)性能参数，
根据IC的电磁兼容(EMC)性能参数，调整布局设计，
通过比较多种IC的电磁兼容(EMC)性能参数，为具体应用选择的IC。
集成电路生产商可以利用该系统测量IC的EMC参数，并在开发的过程中改善IC的电磁兼容特性。
通过集成电路的引脚和电磁场测量其EMC参数：电压(u)，电流(i)，正向功率(pvor)，电场强度(E)，磁场强度(H)
查找分析集成电路出现薄弱点的原因
有效地开发集成电路的电磁兼容性能
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