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可售数量： 20套
LANGER EMV-Technik为德国 近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。
修改测试可用于产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。
修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。
所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定 源的位置和 强度，从而找出 大的零件或电路。
Langer ESD 200 ps型场耦合探头组中包含的场源产生快速电场的和磁场的静电放电脉冲场（200 ps）。这些场可以确定地、可复现地加载在集成电路上，从而确定集成电路对静电放电场的抗干扰性。 其背景是扁平元件组和电子设备的静电放电场抗干扰性。这些设备要经受静电放电测试（IEC 61000-4-2）。测试时与扁平元件组耦合的静电放电干扰会产生除标准静电放电脉冲场之外的快速电场和磁场（200 ps）。产生的场作用于扁平元件组的表面，并且能穿过集成电路的外壳。若这些场穿过集成电路，则在集成电路中产生干扰过程。 因此除了在集成电路引脚上的与电路耦合的静电放电干扰之外，磁场和电场对集成电路的影响也是一个很主要的干扰途径。
Langer ESD 200 ps型 场耦合探头组 P1202 / P1301 L-ESD set 现货 低价 促销
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