CMI900荧光镀层膜厚仪

品牌：Oxford Instruments牛津仪器  

型号： CMI900  

CMI900膜厚仪：是牛津仪器新开发的新一代镀层膜厚仪，是X射线荧光(XRF)镀层膜厚仪，无损测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，快速简洁只需要10秒即可得出测量结果，是质量控制、节约成本的 检测工具。应用行业不一样，有着多种称谓：金镍膜厚仪、LED膜厚仪、金银膜厚仪、X射线膜厚仪、X-Ray膜厚仪、台式膜厚仪……

CMI900膜厚仪应用行业：

PCB、FPC、LED支架和封装、连接器、端子、电子元件、五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。

CMI900膜厚仪工作原理：

对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

CMI900膜厚仪的工作特点：

1.测量时间约10秒，快速无损得出测量结果，进行非破坏的能量色散X射线荧光（EDXRF）分析；

2.测量元素为钛Ti22---铀U92间各元素，范围宽广；

3.同时测量5层镀层（含基材镀层），15种元素共存校正；

4.测量精度高，结果精确到微英寸；

5.测量结果报告可直接打印或输出到PDF、Excel文档；

6.测量结果报告中可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表；可使用系统预置的报告模板和客户自定义的报告模板；

7.系统安全设置级别，配置有X射线警示灯、X射线锁、红色急停开关、样品室开闭门传感器、光闸传感器、使用者和管理员分级密码管理等；

8.贵金属检测，如Au karat评价；

9.材料和合金元素分析；

10.材料鉴别和分类检测；

11.元素光谱定性分析

12.提供NIST认证的镀层标准片。

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