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失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门专用半导体器件图示仪

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12年

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陕西西安

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概述

EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制,达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下,这些源与条件负载按照条件准确的连接,其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。

系统规格及技术指标                                                          

主极电压:     1mV-2000V

电压分辨率:   1mV

主极电流:     0.1nA-50A

扩展电流:     100A

电流分辨率:   0.1nA

测试精度:     0.2+2LSB

测试速度:     0.5mS/参数

工作温度:     25--40

工作湿度:     45--80

贮存湿度:     10--90

工作电压:     200v--240v

电源频率:     47HZ--63HZ

通信接口:     RS232 USB

系统功耗:     <150w

设备尺寸:     450mm×570mm×280mm

   量:     35KG

测试范围

二极管DIODE晶体管(NPN型/PNP型)J型场效应管J-FETMOS场效应管  MOS-FET双向可控硅TRIAC可控硅SCR绝缘栅双极大功率晶体管IGBT硅触发可控硅STS

达林顿阵列DARLINTON光电耦合OPTO-COUPLER继电器RELAY稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR光电开关OPTO-SWITCH光电逻辑OPTO-LOGIC金属氧化物压变电阻MOV固态过压保护器SSOVP压变电阻VARISTOR双向触发二极管DIAC


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失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门专用半导体器件图示仪

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