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VIEW Mirco三维光学影像仪VIEW Benchmark 450高价值、高精度影像测量仪

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可售数量: 100台

8年

经营年限

广东东莞

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5.4

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拥有大气外观的VIEW Benchmark 450影像测量仪体现了VIEW的性能和风范。其450 x 450 mm的大行程平台,既适合测量大体量的工件,也可一次批量测量多个小零件组。先进的光学、照明、可选配的TTL激光、以及图像处理能力使Benchmark 450成为世界 的计量系统。

可选的软件包增强系统的通用性:
CAD 导入(DXF/IGES) 软件
形状拟合和分析软件
离线编程软件
QC-Calc™ Statistical Process Control (SPC) —实时分析和报告软件
Elements™ CAD To Measure测量软件

 

 

 

特征:

测量范围:450 x 450 x 200 mm
65公斤承载力
亚微米的光栅尺分辨率
平台移动速度X-Y: 150 mm/秒; Z: 100 mm/秒
误差映射:在XY平面非线性二维纠错
超精密双重放大光学系统
可编程多色环形灯(PRL)选项
TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能
先进的图像处理性能,快速、精确、稳健
双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例
次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel
强大的测量软件和数据分析工具可供选择
平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时

 

Benchmark影像测量仪的应用范围包括:


SMT/电子元气件
PCB板和Stencil
SMT元件贴装 
锡膏/环氧数脂胶点
芯片载体和托盒
喷墨打印机墨盒
引线框,引线接合,柔性线路板,连接器
光纤组件和MEMs

 

数据存储
Wafer carriers and row bar pallets
滑块和悬臂组(HGA)
悬置件

 

精密注塑和机加工件
模具和刀具
医疗设备
燃料喷射部件
手表组件


品牌 美国VIEW
型号 VIEW Benchmark 450
加工定制
操作方式 遥杆控制
分辨率 0.01微米
测量行程 450 x 450 x 200 mm
放大倍率 30-180X
测量精度 XY(2.5+5L/1000)μm

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