【VIEW Mirco三维光学精微测量仪Pinnacle+Plus高精度测量系统】价格_批发_厂家_参数_图片_影像仪

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VIEW Mirco三维光学精微测量仪Pinnacle+Plus高精度测量系统

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产品规格

可售数量： 100台

东莞市天测光学设备有限公司苏州分公司

8年

经营年限

广东东莞

所在地区

5.4

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产品属性

Pinnacle⁺ Plus将Pinnacle系列提升到了新的水平. Pinnacle⁺ Plus的特点是刚性花岗岩光学支撑结构和高性能Z轴运动组件，在微电子零件和组件的测量中获得尽可能低的不确定性。

的线性运动控制技术提供了快，可靠的测量系统，适合从洁净室到生产车间等环境中进行高兼容性操作。

Pinnacle⁺Plus使用的是一个或多个VIEW的标准计量软件包：

·VIEW Metrology Software (VMS™)是Pinnacle⁺ Plus上的标准软件，它提供了广泛的标准测量工具以及内置的脚本语言来实现客户自定义功能。

·Element 脱机编程软件在Pinnacle⁺ Plus上是可选的，它提供测量程序中二维CAD文件的自动转换，即使是复杂的零件也能非常快速地完成程序的编辑。

Measure-X®测量软件在Pinnacle⁺ Plus上是可选的，它通过直观的点和点击界面引导用户完成编程。

品牌美国VIEW

型号 Pinnacle+Plus

加工定制否

操作方式遥杆控制

分辨率 0.05微米

测量行程 250*150*50

放大倍率 30-180X

测量精度 XY（1.0+5L/1000）

外形尺寸（长*宽*高） 805*880*1800

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