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JIMA RT RC-05分辨率测试卡,X射线分辨率测试卡

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JIMA RT RC-05 X射线分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm
芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm
图案布局:T型 (3-10μm)
I 型 (15-50μm)
线/空间尺寸:16种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)

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JIMA RT RC-05分辨率测试卡,X射线分辨率测试卡

JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

品牌 JIMA
型号 RT RC-05
加工定制
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