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¥ 15600.00
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产品规格
可售数量： 66台
多功能激光椭圆偏振仪型号:ZXWJZ-II库号：M351615
实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台，测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0-300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0*-360°，
游标读数0.10。
测量:+2nm。
入射角ψ1=70°，K9玻璃折射率n=1.515。
消光系数:0,空气折射率1。
●半导体激光器波长λ=635nm。
多功能激光椭圆偏振仪型号:ZXWJZ-II库号：M351615
实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台，测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0-300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0*-360°，
游标读数0.10。
测量:+2nm。
入射角ψ1=70°，K9玻璃折射率n=1.515。
消光系数:0,空气折射率1。
●半导体激光器波长λ=635nm。
多功能激光椭圆偏振仪型号:ZXWJZ-II库号：M351615
¥ 15600.00
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