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MiniTest 725涂层测厚仪 MiniTest735膜厚仪 MiniTest 745测厚仪

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可售数量: 200台

上海遂欧仪器有限公司

8年

经营年限

上海

所在地区

10.0

综合评分

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产品属性

MINITEST 725/735/745涂层测厚仪技术数据表 
SIDSP探头



探头 
特性

F1.5,N0.7,FN1.5

F2

F5,N2.5,FN5

F15

F

N

F

F

N

F

测量范围

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范围

小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用

粗糙表面

标准探头,使用广泛

厚涂层

测量原理

磁感应

电涡流

磁感应

磁感应

电涡流

磁感应

信号处理

探头内部32位信号处理(SIDSP)

精确度

±(1μm+0.75%读值)

±(1.5μm+0.75%读值)

±(5μm+0.75%读值)

重复性

±(0.5μm+0.5%读值)

±(0.8μm+0.5%读值)

±(2.5μm+0.5%读值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

小曲率半径(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

小曲率半径(凹,外置探头)

7.5mm

10mm

25mm

小曲率半径(凹,内置探头)

30mm

30mm

30mm

小测量面积

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

小基体厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

连续模式下测量速度

每秒20个读数

单值模式下 大测量速度

每分钟70个读数


加工定制
品牌 德国EPK
型号 MiniTest 725涂层测厚仪
测量范围 0-5000um
测定对象 涂镀层测厚
测量精度 见参数
分辨率 见说明
电源 DC
尺寸 157mmx75.5mmx49m
重量 175g

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MiniTest 725涂层测厚仪 MiniTest735膜厚仪 MiniTest 745测厚仪

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