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包装膜袋 包装材料厚度测定仪 三泉中石 包装膜测厚仪 配件

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3台起订

产品规格

可售数量: 100台

济南三泉中石实验仪器有限公司

19年

经营年限

山东济南

所在地区

10.0

综合评分

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产品属性

 

包装膜袋 包装材料厚度测定仪 三泉中石 包装膜测厚仪


薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离,而实际上,薄膜的表面是不平整,不连续的,且薄膜内部存在着针孔、微裂纹、纤维丝、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等。因此薄膜的厚度大至可以分成三类:形状厚度,质量厚度,物性厚度。形状厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离;质量厚度指的是薄膜的质量除以薄膜的面积得的厚度,也可以是单位面积所具有的质量(g/cm2);物性厚度指的是根据薄膜材料的物理性质的测量,通过一定的对应关系计算而得到的厚度。

当今微电子薄膜,光学薄膜,抗氧化薄膜,巨磁电阻薄膜,高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用,在工业生产的薄膜,其厚度是一个非常重要的参数,直接关系到该薄膜材料能否正常工作。

除此之外,薄膜材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等都与厚度有着密切的联系。

济南三泉中石生产的CHY-U包装膜袋厚度测定仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量,误差小,操作简单方便。


技术特征 

1.配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果

2.打印数值及每次测量结果,方便用户分析数据

3.仪器自动保存达100组测试结果,随时查看并打印

4.标准量块标定,方便用户快速标定设备

5.配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,误差小

6.提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户; 

7.配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输


技术参数               

测量范围 0-2mm (其他量程可定制)               

分辨率 0.1um               

测量速度  10次/min(可调)               

测量压力 17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)               

接触面积 :50mm²(薄膜),200mm²(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种               

进样步矩 : 0 ~ 1300 mm(可调)               

进样速度 : 0 ~ 120 mm/s(可调)               

机器尺寸: 450mm×340mm×390mm (长宽高)               

   量: 23Kg               

工作温度:15℃-50℃                    

试验环境:无震动,无电磁干扰              

工作电源:220V 50Hz


参照标准

GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817       


加工定制
类型 薄膜测厚仪
品牌 三泉中石
型号 CHY-HS
测量范围 0-2mm
显示方式 液晶屏
电源电压 220V 50Hz
外形尺寸 450mm×340mm×390mm
分辨率 0.1um
测量速度 10次/min(可调)
测量压力 17.5±1kPa
接触面积 50mm²
重 量 23Kg
工作温度 15℃-50℃
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