单晶硅(Si)高精度窗口片_其他仪器仪表

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单晶硅(Si)高精度窗口片

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吉林省一博商贸有限公司

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单晶硅(Si)高精度窗口片”参数说明

型号：	Si	规格：	30 μm - 1 mm
商标：	一博	包装：	纸箱
Heat Capacity：	1.3 J/(g*K)

“单晶硅(Si)高精度窗口片”详细介绍

特性

直径1/2英寸和1英寸的版本可供选择
适用于红外波段的应用，1.2 - 8 µm波段
可选择不镀膜或者镀增透膜(3 - 5 µm平均反射率小于2%)

QXKJ的精密单晶硅(Si)窗口片有两种尺寸：Ø1/2和Ø1英寸。它们可以选择不镀膜或者两面都镀增透膜，镀膜的情况下，在3 - 5 µm的范围内平均反射率小于2%(详情请看曲线标签)。硅具有高的热传导率和低的密度，使其适合制作成激光反射镜。然而，由于硅在9微米波长处有很强的吸收。

硅(Si)透镜和窗口片是使用近红外和部分中红外波长范围应用的理想选择。硅材料热传导率高、密度低，使之适于激光反射镜。但是，硅在9 µm时吸收强，它不适于硅光学元件也特别适于成像、生物医学和事应用。我们的量子级联激光器与硅光学元件一起使用时，可以提供一些输出波长。硅能够透射的光波长范围从1.2 µm到8.0 µm，在4.58 µm处折射率是3.423。

Silicon Specifications
Index of Refraction at 4.58 µma	3.423
Abbe Number (Vd)	Not Defined
Transmission Range	1.2 - 8.0 µm
Density	2.329 g/cm3
Knoop Hardness	1100 kg/mm2
Young's Modulus	130.91 GPa
Shear Modulus	79.92 GPa
Bulk Modulus	101.97 GPa
Poisson's Ratio	0.28
Coefficient of Thermal Expansion	4.50 x 10-6 /°C
Heat Capacity	0.84 J/(g*K)
Melting Point	1690 °C
Change in Index of Refraction with Temperature (@ 10.6 μm)	160 x 10-6 /°C

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