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可售数量: 89666台
SZGJ光干涉jia wam测定器检定仪装置 GJD-II光干涉式jia wam测定器校验仪
测定器所依据的原理是数字式压力校准法原理。压力校准法是校准光干涉式jia wam
测定器的一种普遍采用的方法,这种校准方法比起其它校准方法有更充足的实验
和理论依据,并且具有设备简单、操作方便、校准准确度高等优点。压力校准法
原理为:光干涉式jia wam测定器的气室组组件中有气样室和空气室两个气室,两个
气室因压力差别而产生的折射率差别与两个气室间因气体种类不同而产生的折
射率差别有一对应的关系,依此原理,可通过施加压力的办法对光干涉式jia wam
测定器进行校准。其理论计算公式为:
P=1.7665×(273+t)X
式中:
P-在校准环境温度t时,对应jia wam浓度X%CH,校准点的压力值,(KPa);
t一校准时的环境温度,(C);
x-校准点jia wam浓度值,(ClH/Air)。
此公式在校准时的具体应用,请详见下面的介绍。
三、主要技术指标
1、量程范围:0kPa~60kPa:
2、显示位数:数字式显示5位LED;
3、工作环境温度:10~40℃;
4、电源:AC220V士10%,50HZ;
5、外形尺寸:360mm×160mm×320mm;
6、重量:5kg。

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15589779411
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155-89779411

金煤 SZGJ光干涉甲烷测定器检定仪装置 GJD-II光干涉式甲烷测定器校验仪
¥ 10500.00 ~ ¥ 11000.00
¥10500.00
89666台可售

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