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F分体式涂层测厚仪 型号:M377135库号:M377135中西

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¥ 1650.00

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可售数量: 28台

北京中西华大科技有限公司

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分体式涂层测厚仪 型号:M377135库号:M377135  

参数

测头类型 F1不可拔插

工作原理 磁感应

测量范围 0~1250μm

低限分辨率 0.1μm

示值误差 一点校准 ±(3%H+1)

二点校准 ±[(1~3%)H+1]

测试条件 小曲率半径mm 凸1.5mm、凹9mm

小面积直径mm Φ7mm

基本临界厚度mm 0.5mm

工作环境 温度 0~40℃

湿度 20%~90%

电源 AAA型碱性电池1.5V两节

外形尺寸 115×68×25mm(主机)

重量 150g

外壳材质 塑料外壳

标准配置 主机、标准试片、铁基体、碱性电池

选配 标准试片

符合标准

1、GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度测量 磁性方法

2、GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量 涡流方法

3、JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪

4、JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》

5、JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

测量原理

● 本仪器采用了磁性原理的测厚方法,可测量磁性金属基体( 如铁、钴、镍 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。

A、磁性法(F型测头):当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。

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F分体式涂层测厚仪 型号:M377135库号:M377135中西

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