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产品规格
可售数量: 99台
低频介电常数及介质损耗测试系统(20HZ-1MHZ)型号:HH12-AS2878库号:M408302
AS2878主机参数
ε和D性能:
固体缘材料测试频率20Hz~1MHz/20Hz~2MHz/20Hz~5MHz的ε和D变化的测试。
ε和D测量范围:ε:1~105,D:0.1~0.00005,
ε和D测量(10kHz):ε:±2%,D:±5%±0.0001。
测试参数:C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,θ,DCR
测试频率:20Hz~5MHz,10mHz步进
测试信号电平:f≤1MHz10mV~5V,±(10%+10mV),f>1MHz10mV~1V,±(20%+10mV)
输出阻抗:10Ω,30Ω,50Ω,100Ω
基本准确度;0.1%
显围:
L0.0001uH~9.9999kH
C:0.0001pF~9.9999F
R,X,Z,DCR:0.0001Ω~99.999MΩ
Y,B,G0.0001nS~99.999S
D:0.0001~9.9999
Q:0.0001~99999
θ:-179.99°~179.99°
测量速度;快速:200次/s(f﹥30kHz),100次/s(f﹥1kHz)
中速:25次/s,慢速:5次/s
校准功能:开路/短路点频、扫频清零,负载校准
等效方式:串联方式,并联方式
量程方式:自动,保持
显示方式:直读,Δ,Δ%
触发方式:内部,手动,外部,总线
内部直流偏:电压模式-5V~+5V,±(10%+10mV),1mV步进
置源:电流模式(内阻为50Ω)-100mA~+100mA,±(10%+0.2mA),20uA步进
比较器功能:10档分选及计数功能
显示器;7寸LCD显示
存储器:可保存20组仪器设定值
USBDEVICE(USBTMCandUSBCDCsupport)USBHOST(FAT16andFAT32support)
接口:LAN(LXIclassCsupport)RS232CHANDLERGPIB(选件)
工作频率范围:20Hz~5MHz数字合成,
±0.02%
电容测量范围:0.00001pF~9.99999F六位数显
电容测量基本:±0.05%
损耗因素D值范围:0.00001~9.99999六位数显
介电常数测试装置(含保护电极):介电常数测试装置提供测试电极,能对直径φ6~50mm,厚度<14mm的试样测量。
它针对不同试样可设置为接触电极法,薄膜电极法和非接触法三种,以适应软材料,表面不平整和薄膜试样测试。
微分头分辨率:10μm
耐压:±42Vp(AC+DC)
电缆长度设置:1m
使用频率:5MHz
2S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
固体:材料测量直径Φ38mm;厚度可调≥15mm


低频介电常数及介质损耗测试系统(20HZ-1MHZ)型号:HH12-AS2878库号:M408302
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