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普通四探针方阻电阻率测试仪型号:RK02-FT-331库号：M406304 FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪 描述： 采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本. 二.参照标准： 硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. 三.适用范围： 适用于企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表 用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品 规格型model FT-331 1.方块电阻范围10^-5～2×10^5Ω/□ 2.电阻率范围10^-6～2×10^6Ω-cm 测试电流范围0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA 4.电流精度±0.1% 5.电阻精度≤0.3% 6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率 7.测试方式普通单电测量 8.工作电源输入:AC 220V±10%.50Hz功耗：<30W 9.误差≤4%（标准样片结果） 10.选购功能选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台；5.标准电阻. 11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格;探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针 12.标准电阻（选购）规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ 标准配置外订购明细： 序号型号品名单位数量备注 1 340-CSX测试线套1 2 09A标准电阻个1-5选购规格和数量 3 06A四探针测试平台套1含探头1个 4 06B四探针探头个1方型或直线型选购 5 340-TTZ镀金弹簧铜针4根组1 4根为一组 6 340-WTZ弹簧钨针4根组1 4根为一组 7 340-RJ分析软件套1 8 PC电脑+打印机套1依据客户要求配置 9 300-JL检测技术服务份1计量证书1份 10 WDCGQ温度传感器套1常温-125度 331-YB延保服务年1-3
普通四探针方阻电阻率测试仪型号:RK02-FT-331库号：M406304
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