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数字电路实验箱中西器材型号:VV511-LH-D6A+库号：M28932

¥ 3200.00

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产品规格

可售数量： 50台

北京中西华大科技有限公司

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北京

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产品属性

数字电路实验箱中西器材型号:VV511-LH-D6A+库号：M28932

LH-D6A+ 数字电路实验箱

实验箱由铝木合金箱体、开关电源、常用信号源和实验电路区组成。其中实验电路区采用全开放模式，可根据需求灵活配置实验电路，以满足不同层次学生的教学实验要求。

一、主要组成

1.1直流稳压电源 DC：±12V/1.5a，DC：5V/2A，其中+5V电源有过压保护、欠压保护和短路报警和自动关断功能，确保实验电路元件和人身。

1.2 直流稳压连续可调输出:DC:1.5～9V。

1.3 常用信号源

1）提供二组正负单脉冲发生电路，带电平指示。

2）1HZ～10KHZ分2档连续可调时钟电路，1HZ～100HZ和100HZ～10KHZ。

3）固定脉冲分9路输出,分别是1HZ、2HZ、10HZ、100HZ、1KHZ、10KHZ、100KHZ、500KHZ、1MHZ，其中1HZ带指示灯显示。

4）12路开关量输入显示电路，输入端带保护功能。

5）12路开关量输出电路，输出端自带显示电路，直观显示开关量的输出状态，同时输出端带保护功能。

6）6位七段LED共阳数码显示器，自带BCD码译码电路；

7）2位独立数码管，可装共阳或共阴数码管，都设计有限流电阻以保护数码管。

8）2组BCD码拨盘开关输出电路，输出端带保护功能。

9）由555时基电路组成的音响输出控制电路，并带有蜂鸣器和喇叭输出设备。

1.4 测试

1）提供三状态数字逻辑测试电路，并有声光提示。

2) 设计有导线测试座一组，可测量实验导线的通断。

1.5 实验电路区：独立电路板设计，和实验信号源完全隔离，防止实验电路区接线时的误操作损坏主机箱。实验电路区配置如下：

1）配置开放式实验区，含2只IC8、8只IC14、1只IC16(可以再扩展3只）、1只IC18、1只IC20、1只IC40锁紧插座（兼容IC18-IC40等)。

2）提供独立10MHZ晶振、8Ω喇叭、蜂鸣器、ST135光电开关和1×2开关各1个,多圈电位器100、4.7K、10K、100K各1个。

3) 还设有多个高锁紧式防转叠插座(与集成块插座、镀银长紫铜管及固定器件等已内部连好)作为实验连接点、测试点，实验接线时，只要拿锁紧插头线相互连接即可。

4) 1个扩展模块电路接入区：尺寸各为155×100mm，可选配固定线路实验模块。学生可以进行创新性练习，以提高学生的思维能力和动手能力。

1.6 配套虚拟实验软件，可所有实验例程。

1.7实验用基础集成电路：74LS00、74LS02、74LS04等22片。

1.8实验线路的连接

全部信号引出插孔采用Φ2自锁紧式涂金插孔，氧化，美观漂亮。实验导线有两种分别为Φ0.5的单股铜芯线（与面包板兼容）和Φ2自锁紧可叠插导线。

1.9 机箱：坚固型铝合金框架，厚实的 ABS 塑料包角，参考外形尺寸 480×360×148mm。

二、选配模块

1）分立元件模块板：板上含电阻10Ω、100Ω、200Ω、470Ω、510Ω、1K、1.2K、1.5K、

4.7K、5.1K、10K、22K、47K、100K、150K、22M；20P、30P、100和100P可调、240P、300P、680P、0.01uF、0.02uF、0.047uF、0.1uF、10uF/16V、47uF/16V、100uF/16V；二极管2AK2、2CK13、2CK15、IN4007；三极管3DG6和3DK2；晶振32768HZ；电位器100K（2个）、47K、15K、10K、1K、330Ω各1个，满足数字电路基础实验要求。

2)面包板模块:有2块350孔面包板组成，并设计有面包板和主板间的连接转换。可以扩展到4块。

3）创新设计模块

1）采用Altera DE2-115软件开发平台，配与创新设计模块配套使用的调试器,它承载数字实验电路以及片上调试器。

2）提供操作实验电路的人机交互平台，可视化的实验调试系统，通过USB接口与计算机连接，通过扁平电缆直接与DE2-115创新设计模块相连。

3）逻辑电路实验具有真实感的实物操作界面和基于原理框图的操作界面。用户可自定义逻辑电路实验操作界面，实验调试软件终身免费升级。

4)模块资源:提供正版开发工具Quartus Prime；配备逻辑电路课程设计源代码和PPT；十个实验项目源代码及ppt；后期协助用户开发新实验项目；后期开发的新的试验项目免费提供；开标时课程资源支持远程演示或浏览。

三、实验项目

基础实验

1. 晶体管开关特性、限幅器与钳位器

2. TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

3. CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

4. 集成逻辑电路的连接和驱动