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产品规格
可售数量: 520台
高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准(F28-75)及标准GB/T1553-1997设计制造。本设备采用高频光电导衰减测量方法,适用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,硅单晶寿命测量ρ≥3Ω·cm,由于对样块体形无严格要求,因此应用于工厂的常规测量。寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。 技术参数 (1)电阻率测量范围ρ≥3Ω·cm,寿命测试范围:5~10000μs (2)光脉冲发生装置 重复频率>25次/s 脉宽≥60μs 光脉冲关断时间<1μs 红外光源波长:1.06μm(测量硅单晶),如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源。 脉冲电源:~12A (3)高频源 频率:30MHz 低输出阻抗 输出功率>1W (4) 放大器和检波器 频率响应:2Hz~3MHz 寿命测试范围:5~10000μs 按测量标准对仪器设备的要求,本仪器设备配有: (5)读数方式:可选配载流子寿命测试软件系统或数字示波器读数,软件系统测试操作简单,点击“测量”即可,自动保存数据及相应测试点衰减波形到数据库,可进行查询历史数据和导出历史数据等操作。
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高频光电导少数载流子寿命测试仪 型号:S810-LT-1B 库号:M397453
¥ 82000.00
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520台可售
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