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¥27800.00
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产品规格
规格: 1000*1000*1000 1000*1000*800 300*400*250 350*400*350 400*500*400 500*600*500 500*750*600 600*850*800
半导体器件高低温测试设备主要用于测试工业产品在恒高温,恒低温的不同气候环境下的使用,运输和储存时的性能试验、实验,主要用于对电工,电器、电子、光电产品,包括所有工业品的元器件,零部件,金属材料及其在模拟高温,低温的不同气候条件下,对产品的物理以及其它相关性能进行试验,试验测试后,通过检定后的成果来判断产品的性能是否能够达到要求或者标准,以便提供产品的改良,设计,生产,检定及出厂检验使用。
半导体器件高低温测试设备技术参数:
温度范围:0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃~+100℃(+150℃)
温度均匀度:≤2℃
温度波动度:≤0.5℃
升温速率:约3℃/min(非线性 空载)
降温速率:约1℃/min(非线性 空载)
内外箱材质:内箱采用304不锈钢,外箱采用不锈钢板或烤漆(客户可随意选择)
延伸设备:恒温恒湿试验箱,快速升降温湿热试验箱,高低温交变湿热试验箱,步入式恒湿恒温设备
使用环境温度:+5℃~35℃
标准配置:1、观察窗2、测试引线孔3、防潮照明灯4、不锈钢样品架
循环系统:单循环,低噪音离心风机
安全装置:漏电断电保护,压缩机超压,过热过流保护,过载熔断保护,风机过热保护,声讯报警等。
电源:AC380V或220V+10% 50Hz
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18988712117
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0769-82983636
爱佩科技 AP-GD 半导体器件高低温测试设备 高低温试验箱 高低温恒温循环装置
¥ 25900.00 ~ ¥ 27800.00
¥ 25900.00
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