X光对比测试卡

产品销售编号：20220801-05

产品销售厂家：固安县双玉仪器有限公司

分辨率测试卡详细介绍：JIMA RT RC-04分辨率测试卡是一种用于设置和测试微焦 X 射线系统的光刻生产的测试模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之间的分辨率，对应于 0.2 µm 和 20 µm 之间的焦斑尺寸。不同距离的线束应用于硅载体JIMA RT RC-04分辨率测试卡特点：




：5×5×0.015mm图案布局：T型线/。空间分辨率是指对物体结构大小(几何尺寸)的鉴别能力,通常用每厘米内的线对数(LP /厘米)或用可辨别小物体的直径(毫米)来表示,它与构成图像的像数有关,像数小而多,则空间分辨率就大,图像细致清楚。构成CT图像的像数不可能像X线照片的银粒那么细小而多,所以CT空间分辨率较普通的X线照片要小。是否可以简单的理解为空间分辨率就是多的像素 时间分辨率就是照相机连拍的时候的时间间隔

选择检测器、样品和试管之间的距离，以便获得尽可能的放大倍数。现在选择所需的 X 射线参数。将测试图案放置在试管前面，以便一束线条中的每条线条清晰可见。使用机械手进行溶出度测试，使下一个小的线束变得可见。只要线条清晰，就继续。以下近似适用：焦点尺寸等于分辨率乘以 2。

产品销售编号：20220801-05

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