X机分辨力线对测试卡

产品名称：X机分辨力线对测试卡

产品编号：2022011810

产品经销商：廊坊玉双仪器设备有限公司

产品介绍：

测试卡（分辨率测试卡，双线型IQI）应与线型或孔型像质计一起使用。分辨力线对测试卡应置于被检物体的源侧，并且应尽可能地靠近射线束轴线与轴线垂直。应借助4倍放大镜观察线对成像后的影像。线对，其影像正好是两双线间距可以识别极限下的两独立线过渡到单线的影像，此时被认为是可辨别的极限值。图像不清晰度U可由2d表示，其中d是线的宽度和线的间隔距离（见下表）。

丝的代号 几何不清晰度U(mm) 线对的线的直径d(mm)

13D 0.10 0.050

12D 0.13 0.063

11D 0.16 0.080

10D 0.20 0.100

9D 0.26 0.130

8D 0.32 0.160

7D 0.40 0.200

6D 0.50 0.250

5D 0.64 0.320

4D 0.80 0.400

3D 1.00 0.500

2D 1.26 0.630

1D 1.60 0.800

对每个分辨率测试卡，制造商都应提供合格证明书。

注：射线透射分辨率测试卡（线对卡，双线型IQI）不能代替线型或阶梯/孔型像质计，因为它仅仅反映不清晰度。

双丝像质计（双线型像质计，双线型IQI）根据ISO19232-5/EN462-5/ASTM E2002标准生产，ISO19232-5/ EN462-5/ASTM E2002双丝像质计（双线型像质计，双线型IQI）是由放置于刚性半透明塑料盒中的13个线对组成，双丝像质计丝的直径与丝与丝之间的距离相等，每个线对包含两条圆形截面的线。1D至3D线对是金属钨，其它线对是金属铂。双丝像质计（双线型像质计，双线型IQI）用于确定射线照相和实时射线透照系统的几何不清晰度。

ASME/ASTM E-1025孔型像质计在母材上有三个孔，孔的直径分别是母材厚度的1X,2X和4X。

可以提供以下材质的ASME/ASTM E-1025孔型像质计：

不锈钢，铝，铜铝合金，黄铜，铜，铜镍合金，镍，镁，镍合金，磷铜，钛，钛合金和一些其它的材质。

同时可提供以下厚度的垫块:

1/16, 1/8, 1/4, 3/8, 1/2, 5/8, 3/4, 1, 1, 1, 1, 2 and 2 in

另可提供符合ASTM E1742孔型像质计及相应的垫块

产品名称：X机分辨力线对测试卡

产品编号：2022011810