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显微熔点仪 型号:SGW X-4库号:M159240 【应用范围】 测定物质的熔点。用于 化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。 【性能指标】 *.熔点测量范围:室温至320℃ *.测量重复性:±1℃(在<200℃时) ±2℃(在200~300℃时) *.光学放大倍数:目镜10X;物境4X *.温度显示小示值:1℃ *.熔点观察方式:单目显微镜
显微熔点仪 型号:SGW X-4库号:M159240 【应用范围】 测定物质的熔点。用于 化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。 【性能指标】 *.熔点测量范围:室温至320℃ *.测量重复性:±1℃(在<200℃时) ±2℃(在200~300℃时) *.光学放大倍数:目镜10X;物境4X *.温度显示小示值:1℃ *.熔点观察方式:单目显微镜
显微熔点仪 型号:SGW X-4库号:M159240 【应用范围】 测定物质的熔点。用于 化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。 【性能指标】 *.熔点测量范围:室温至320℃ *.测量重复性:±1℃(在<200℃时) ±2℃(在200~300℃时) *.光学放大倍数:目镜10X;物境4X *.温度显示小示值:1℃ *.熔点观察方式:单目显微镜
显微熔点仪 型号:SGW X-4库号:M159240
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