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产品规格
可售数量: 100台
EDX2000A全自动微区膜厚测试仪 是天瑞仪器研发的一款上照式膜厚测试仪。采用进口高分辨率的FAST SDD探测器,高达140ev分辨率,相比于传统的镀层测厚设备,更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析。
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镀金镀银镀锡层厚度检测仪 X-ray镀层测厚仪EDX2000A
¥ 15.80万 ~ ¥ 16.50万
¥15.80万
100台可售
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