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镀金镀银镀锡层厚度检测仪 X-ray镀层测厚仪EDX2000A

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产品属性

EDX2000A全自动微区膜厚测试仪 是天瑞仪器研发的一款上照式膜厚测试仪。采用进口高分辨率的FAST SDD探测器,高达140ev分辨率,相比于传统的镀层测厚设备,更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析。














产品特性 快速无损
是否进口
产地 江苏
加工定制
类型 镀层测厚仪
品牌 天瑞
型号 EDX2000A
测量范围 0.000005~0.05
显示方式 电脑上位机软件
电源电压 AC220
外形尺寸 485×588×505
测量元素范围 铝(AL)~铀(U)
检出限 0.005μm
含量测试范围 0.1%-99.99%
厚度测试标准偏差 <3%
含量检测精度 <0.5%
检测时间 5-40秒
探测器 FAST-SDD探测器
能量分辨率 140±5ev
X射线装置 微焦斑W靶光管
仪器重量 60kg
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镀金镀银镀锡层厚度检测仪 X-ray镀层测厚仪EDX2000A

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