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科研数字源表 半导体器件电性能精密测量设备 上海文浅光电科技有限公司推出的数字源表产品面向光芯片、硅光器件的IV特性测量需求,提供高精度的电学测试解决方案。WG2013双极性数字源表支持多路并行输出,电压调节分辨率可达1mV,可对光芯片进行精确的电流-电压特性扫描。 在光芯片IV特性测量中,设备通过恒压或恒流模式对被测器件施加激励,同步采集电压和电流数据,绘制完整的IV特性曲线。这对于评估激光二极管(LD)的阈值电流、光电二极管(PD)的暗电流和响应度等关键参数至关重要。文浅光电的数字源表配备USB和RS232接口,支持SCPI标准指令,可配合上位机软件实现程控操作,便于构建自动化光芯片测试系统。 文浅光电在CIOE光博会上展示了面向400G/800G/1.6T高速光模块、光芯片、硅光器件的完整测试解决方案,获得光芯片研发企业的广泛认可。
无源光器件测试光功率计——光纤耦合器件台式光功率检测设备 无源光器件的插损、回损和偏振相关损耗测试需要光功率计具备高测量精度、良好的线性度和优异的长期稳定性。光纤耦合器、波分复用器和隔离器等器件在研发验证和产线质检中,需要在多个波长下对多个端口的输出功率进行精确测量,以准确评估器件的插入损耗和分光比。 文浅光电WG3036十六通道光功率计采用经过专门优化的光功率检测电路,具备准确性好、灵敏度高、采集速度快、测量重复一致性高等特点。工作波长覆盖800~1700nm中的9个常用通信窗口,测量范围-70~+10dBm(A型),测量精度0.1dB,线性度0.1dB,分辨率0.01dB。各通道互相独立的工作波长设定功能,使设备能够在同一测试平台上同时对不同波长下的多路输出功率进行同步采集。 在光纤耦合器的分光比测试中,WG3036的多通道并行采集能力可同时监测各输出端口的功率值,避免多次切换通道带来的测试时间增加和操作误差。在波分复用器的通道隔离度测试中,设备的多波长测量能力可覆盖DWDM和CWDM系统的常用波长窗口,为器件性能评估提供完整的功率数据支撑。 对于需要更高测试效率的产线场景,WG3028八通道光功率计以工业级设计提供高速多端口同步检测能力,测量精度0.1dB,支持SCPI指令程控,可无缝对接自动化测试平台。文浅光电深耕光通信测试领域,可提供光功率计、光衰减器和光开关的完整产品组合,覆盖无源光器件从研发验证到批量质检的全流程测试需求。
福建多通道光功率计高精度自动化测试光功率计
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