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¥16000.00
1台起订
¥15999.00
≥2台
产品规格
可售数量： 15台
附表二 电感组典型测试数据
各部件名称： 1）棘轮测力（测微杆） 2）刻线读数装置 3）锁紧装置 4）液晶显示屏????????????????
极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm
电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
夹具插头间距：25mm±1mm
本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，决缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。
间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字
Q值测量范围：2～1023
产品配置：
工作原理
保证二个测微杆0.01mm分辨率。
Q值合格指示预置功能范围：5～1000
3. 测试准备工作 先要详细了解配用 Q 表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。
夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500/18-220pF
电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%
园筒电容器
长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm
仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
相对湿度：<80％；
Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；
仪器的技术指标
园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。
样品厚度可在 1--5mm 之间，样品太薄或太厚就会使测试 精度下降，样品要尽可能平直。 下面推荐一种能提高测试精确性的方法：准备二片厚 0.05mm 的圆形锡膜，直径和平 板电容器极片一致，锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林，它起粘着作用，又能排除接 触面之间残余空气，把锡膜再粘在平板电容器两个极片上，粘好后，极片呈镜面状为佳， 然后放上被测样品。
平板电容极片 Φ50mm/Φ25.4mm 可选频率范围10KHz-60MHz/200KHz-160MHz
其他
本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
主电容调节范围： 30～500pF
中国检测行业与验证服务的间端者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。
平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。
Q表正常工作条件
测试主机一台；
夹具一 套
夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）
信号源频率覆盖范围10KHz-60MHz或200KHz-160MHz
外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
工作特性 1. 平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ25.4mm （标配） 可选 极片间距可调范围：≥15mm 2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz） 4．测微杆分辨率：0.001mm
配用 Q 表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进材料样品时的 Q 值变 化，可测得决缘材料的损耗角正切值。
BH916测试装置 GDAT高频Q表
电容直接测量范围：1～460pF
用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。
型号频率指示误差：3*10-5 ±1
极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm
电感测量范围：14.5nH～8.14H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算可得到 决缘材料介电常数。
消耗功率：约25W；
性能特点：
工作原理 本测试装置主要由一个数显的微测量装置和一组间距可调的平板电容器组成，平板电 容器用于夹持被测材料样品。
平板电容器
维修保养
净重：约7kg；
测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差<1%或1pF
夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023
满足标准：GBT 1409-2006测量电气决缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
介质损耗测试装置可与本公司生产的各型号 Q 表配用，对决缘材料进行高频介 电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）的测试。916 介质损耗测试装置采用了带数显的 微测量装置，因而在测试时，读数更直观方便，数据更精确。
附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表
6位数字显示；In: 英制测量模式；INC：相对测量模式；ABS：决对测量模式；Set： 初始值设置； ：电池电压低报警（ 电池的更换见后面五注意事项 ）； ： 数据输出。 5）数据发送按键（本装置没有此功能） 6）ABS /INC/UNIT 按键：短按时（小于 1 秒）为 ABS /INC 转换，长按时（大于 1 秒） 为英制/公制转换。 7）ON/OFF/ SET 按键：短按时为开关液晶显示屏；长按时为初始值设置。 8）平板电容器极片 9）夹具插头 2．被测样品的准备 被测样品要求为圆形，直径 50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边 缘电场引起的误差的有效办法。
仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至醉低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。
电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF
环境温度：0℃～+40℃
电感一套；
而数显的微测量装置，用于显示被测材料样品的厚度。
无极介电常数介质损耗测试仪 北广精仪薄膜介电常数测试仪GDAT-A
¥ 15999.00 ~ ¥ 16000.00
¥15999.00
15台可售
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