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IGBT静态参数测试仪STD2002

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¥ 29000.00

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产品规格

可售数量: 9999套

陕西天士立科技有限公司

2年

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陕西西安

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5.7

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产品属性

IGBT静态参数测试仪STD2002


陕西天士立科技有限公司

专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验

 

 

 

测试对象:IGBTMosfetDiode

测试参数:静态参数,包括IGBTIGESICESVGE(th)VCE(sat)以及快恢复二极管的VFICES等参数

标准:绝缘栅双极晶体管(IGBT)》(GB/T29332-2012

该测试仪具有自动保护功能,且所有参数的设定及显示均采用液晶屏触摸屏实现,支持U盘一键导出数据

 

 

IGBT静态参数测试仪STD2002

IGBT测试

IGBT测试项目

测试条件

测试结果

栅极-发射极栅

极绝缘

Vges: 1.0-20.0V ,分辨力,0.1V

精度:±3% ±0.1V

Iges: 0.1-20.0µA,分辨力,0.1µA

精度:±3% ±0.1µA

截止电流

Vces: 100-2000V,分辨力,1 V

精度:±3% ±10V

Ices: 100µA-1000µA,分辨力,10µA

1.0mA-10.0mA,分辩力,0.1mA

精度:±3% ±10µA

阈值电压

Ice: 1-10mA, 分辨力, 1mA

(可根据客户需求扩展)

Vge(th): 1.0-10.0V,分辨力,0.1V

精度:±3% ±0.1V

饱和压降

Ice: 20-200A,分辨力,1A

精度:±3% ±1A

Vce(sat): 0.20-10.00V,分辨力,0.01V

精度:±3% ±0.10V

二极管压降

If: 20-200A,分辨力,1A

精度:±3% ±1 A

Vf: 0.10-5.00V分辨力0.01V

精度:±3% ±0.10V

二极管反向电流

Vd:100-2000V,分辨力,1V

精度:±3% ±10V

Id: 100µA-1000µA,分辨力,10µA

1.0mA-10.0mA,分辨力,0.1mA

精度:±3% ±10µA

 

 

IGBT静态参数测试仪STD2002

MOSFET测试

MOSFET测试项目

测试条件

测试结果

栅极-源极绝缘

Vgss: 1.0-20.0V ,分辨力,0.1V

精度:±3% ±0.1V

Igss: 0.1-20.0µA,分辨力,0.1µA

精度:±3% ±0.1µA

漏极-源极截止电流

Vdss:100-2000V,分辨力,1V

精度:±3% ±10V

Idss:100µA-1000µA,分辨力,10µA

1.0mA-10.0mA,分辨力,0.1mA

精度:±3% ±10µA

栅极-源极阈值电压

Ids: 1-10mA, 分辨力, 1mA

Vgs(to): 1.0-10.0V,分辨力,0.1V

精度:±3% ±0.1V

漏极-源极导通电阻

Ids:20-200A,分辨力,1A

精度:±3% ±1A

Rds(on):0-500mR,分辨力,1mR

二极管压降

If: 20-200A,分辨力,1A

精度:±3% ±1 A

Vf: 0.10-5.00V分辨力0.01V

精度:±3% ±0.10V

二极管反向电流

Vdss:100-2000V,分辨力,1V

精度:±3% ±10V

Idss:100µA-1000µA,分辨力,10µA

1.0mA-10.0mA,分辨力,0.1mA

精度:±3% ±10µA

 

 

IGBT静态参数测试仪STD2002

DIODE测试

DIODE测试项目

测试条件

测试结果

二极管压降

If:20-200A,分辨力,1A

精度:±3% ±1A

Vf: 0.10-5.00V分辨力0.01V

精度:±3% ±0.10V

二极管反向电流

Vd:100-2000V,分辨力,1V

精度:±3% ±10V

Id:100µA-1000µA,分辨力,10µA

1.0mA-10.0mA,分辨力,0.1mA

精度:±3% ±10µA

 

 

 

IGBT静态参数测试仪STD2002

 

陕西天士立科技有限公司

专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验



加工定制
品牌 天士立
型号 STD2002
类型 电参数测量仪
测量范围 200A,2000V
测量精度 3%
功率 500W
重量 5KG
尺寸 460*230*110mm
电源 220V

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IGBT静态参数测试仪STD2002

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