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EL检测中文全称为电致发光缺陷检测,它是根据硅材料的电致发光原理来检测元件的缺陷。 通过在晶体硅电池模块中运行 1-1.5 倍 Isc 的正向电流,晶片发出 1,000-1100 nm 的红外光,相机可以捕获该波长范围内的光并在计算机上成像。电池的内部状况可以通过不同的发光和图像状态来判断。目前业界常见的EL缺陷有七种
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